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EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪
EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

所属品牌:岛津
产品特点:  能(neng)量色散(san)型(xing)X射(she)线荧光分(fen)析仪 EDX-LE Plus是一款(kuan)专用于RoHS/ELV/法规限(xian)制的(de)(de)有(you)害元素(su)筛选(xuan)分(fen)析的(de)(de)X射(she)线荧光分(fen)析装置(zhi)。 配(pei)备(bei)无需液氮型(xing)电子制冷(高分(fen)辨(bian)率SDD)检测器,因此(ci)在实现(xian)降低(di)运作成(cheng)本和更易维护的(de)(de)同时,以维持高可(ke)信性分(fen)析和进一步提(ti)高操作性达(da)到自动(dong)化分(fen)析为目(mu)标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所(suo)需测试时间基本上(shang)可(ke)在1分(fen)钟内完成(cheng),所(suo)以完全可(ke)以应(ying)对(dui)RoHS法规中所(suo)限(xian)制的(de)(de)有(you)害元素(su)的(de)(de)筛选(xuan)分(fen)析。另外,最近几年在众(zhong)多企(qi)业中实施的(de)(de)自行检测有(you)害元素(su)Cl的(de)(de)检测分(fen)析,该(gai)款(kuan)装置(zhi)也可(ke)以通(tong)过筛选(xuan)分(fen)析简单的(de)(de)检测出(chu)来(lai)。同时推荐该(gai)装置(zhi)作为中国(guo)版(ban)RoHS2.0应(ying)对(dui)手段(duan)。

产(chan)品详细资料

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

    能量色散(san)型X射线(xian)(xian)荧(ying)光(guang)分(fen)(fen)析仪 EDX-LE Plus是一(yi)款专用于(yu)RoHS/ELV/法规限(xian)制的(de)(de)有(you)害元素(su)筛(shai)选(xuan)分(fen)(fen)析的(de)(de)X射线(xian)(xian)荧(ying)光(guang)分(fen)(fen)析装置(zhi)(zhi)。 配(pei)备无需液氮型电子制冷(高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨(bian)率SDD)检(jian)测(ce)(ce)器(qi),因此在(zai)实现降低运作成本(ben)(ben)和(he)更易维(wei)护的(de)(de)同(tong)(tong)时(shi),以维(wei)持(chi)高(gao)(gao)可(ke)信性(xing)分(fen)(fen)析和(he)进一(yi)步提高(gao)(gao)操(cao)作性(xing)达到(dao)自动化分(fen)(fen)析为目(mu)标。 根据不同(tong)(tong)样品从开(kai)始(shi)测(ce)(ce)试到(dao)得(de)到(dao)结果所(suo)需测(ce)(ce)试时(shi)间基本(ben)(ben)上可(ke)在(zai)1分(fen)(fen)钟(zhong)内完(wan)成,所(suo)以完(wan)全可(ke)以应对(dui)RoHS法规中(zhong)所(suo)限(xian)制的(de)(de)有(you)害元素(su)的(de)(de)筛(shai)选(xuan)分(fen)(fen)析。另(ling)外,最近(jin)几(ji)年在(zai)众(zhong)多企业中(zhong)实施(shi)的(de)(de)自行检(jian)测(ce)(ce)有(you)害元素(su)Cl的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)分(fen)(fen)析,该(gai)款装置(zhi)(zhi)也可(ke)以通过筛(shai)选(xuan)分(fen)(fen)析简单的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)出来。同(tong)(tong)时(shi)推荐该(gai)装置(zhi)(zhi)作为中(zhong)国版(ban)RoHS2.0应对(dui)手(shou)段(duan)。

追求省时省力,高速筛选分折

  1. EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪 
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深入浅出

  1. EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪 
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配备所有必备功能

  1. EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪 
  2. EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪 很

降低(di)运行成(cheng)本,减少(shao)日(ri)常维护量

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

针对(dui)外检等可对(dui)多数产(chan)品(pin)以(yi)管理值为(wei)标准(zhun)检测(ce)有害元素含量(liang)是否达标而使用的筛选分析,被进一(yi)步要求其提高现场操作性和(he)降低运行成(cheng)本。而EDX-LE Plus就是为(wei)了应对(dui)这种需(xu)求开发出来的装(zhuang)置。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

自(zi)动(dong)老化功能

配(pei)备无(wu)需液氮型检测器(qi)

由于配(pei)备了无(wu)需(xu)液氮进行冷却的(de)检测器(qi),因此大(da)幅削(xue)减了使用时的(de)运(yun)行成本。

X射线光管自动老化功能

为延长X光管(guan)(guan)的(de)寿命而(er)(er)进(jin)行(xing)(xing)的(de)光管(guan)(guan)老(lao)(lao)化(稳定性运转)是(shi)装(zhuang)(zhuang)置管(guan)(guan)理上必不(bu)可缺的(de)。在装(zhuang)(zhuang)置长期(qi)不(bu)运行(xing)(xing)的(de)情(qing)况下,再次启动时需要对X射线(xian)光管(guan)(guan)进(jin)行(xing)(xing)老(lao)(lao)化处理,而(er)(er)该(gai)装(zhuang)(zhuang)置可自动执行(xing)(xing)该(gai)功能(neng)以防(fang)故障发(fa)生,进(jin)而(er)(er)提高(gao)操作性。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

装置(zhi)自检功(gong)能

测试前的装(zhuang)置自检功能

为了随时得(de)到准确的(de)分析结果装置需要进(jin)(jin)行(xing)校(xiao)正(zheng)(zheng),而用(yong)户们(men)希望(wang)尽可能(neng)在短(duan)时间(jian)内(nei)完成校(xiao)正(zheng)(zheng)时的(de)操作(zuo)和判定。EDX-LE Plus在开启仪器后(hou)会(hui)对能(neng)量校(xiao)正(zheng)(zheng)和定量值校(xiao)正(zheng)(zheng)的(de)操作(zuo)进(jin)(jin)行(xing)帮助,当需要进(jin)(jin)行(xing)校(xiao)正(zheng)(zheng)时会(hui)自动进(jin)(jin)行(xing)校(xiao)正(zheng)(zheng)。

配备只(zhi)针对RoHS法规有害5元素(su)+氯元素(su)所需的筛选分析功能

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

尽可(ke)(ke)能将需(xu)要荧光X射线分(fen)析(xi)知(zhi)识的(de)操(cao)作步骤自动(dong)化(hua),可(ke)(ke)进(jin)行RoHS法规5元素+氯元素(选(xuan)配)的(de)高(gao)速(su)(su)筛选(xuan)分(fen)析(xi)。EDX-LE Plus从(cong)开始分(fen)析(xi)到(dao)得到(dao)结果(guo)只需(xu)要(根据样品)约1分(fen)钟。不(bu)仅可(ke)(ke)进(jin)行高(gao)速(su)(su)筛选(xuan)分(fen)析(xi),同时维持了高(gao)可(ke)(ke)信性的(de)分(fen)析(xi)水(shui)平(ping)

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

简洁的高(gao)精度筛选分(fen)析

电源ON之后只需15分钟的稳定时间就可开始分析。
当对象元素含量合格与否的判定确认后,为缩短时间装置会自动停止测定,但该仪器也可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置有1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
下图为塑胶材料(PVC材料包裹的线材)的测定实例。管理标准简单的显示为OK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定为RoHS法规最大允许浓度标准。

配备(bei)筛选轻松设(she)定功能,能够根据管理方法(fa)轻松自定义

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

在日常操作(zuo)中(zhong)根据产(chan)品(pin)的(de)(de)不同会经常变(bian)更(geng)(geng)管理值(zhi),而(er)该(gai)产(chan)品(pin)可以(yi)根据管理方法(fa)对筛选(xuan)分(fen)析(xi)条件轻(qing)松自定义。从开始分(fen)析(xi)到制成分(fen)析(xi)报告所有操作(zuo)都(dou)可以(yi)更(geng)(geng)有效的(de)(de)进行。另一方面,该(gai)装置在软(ruan)件操作(zuo)上配(pei)备了权(quan)限限制设定,从而(er)避免了没有变(bian)更(geng)(geng)筛选(xuan)分(fen)析(xi)条件权(quan)限的(de)(de)人(ren)员由(you)于误操作(zuo)而(er)改(gai)变(bian)条件的(de)(de)现象。

筛(shai)选分(fen)析(xi)的(de)简单设(she)定

根(gen)(gen)据材质和元素设(she)定阈值。根(gen)(gen)据阈值的(de)输入方法来变(bian)更(geng)筛选(xuan)分析的(de)判定方式(shi)。阈值设(she)定可(ke)依据根(gen)(gen)据材质的(de)不同所显示的(de)阈值下限(xian)。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

在分析报告中如何表(biao)示分析结果“低于阈(yu)(yu)值”“灰色区域(yu)”“阈(yu)(yu)值范(fan)围内”,也可自定义设(she)置。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

分析(xi)报(bao)告的模(mo)版也可(ke)以设定。可(ke)在随(sui)机(ji)附(fu)带的模(mo)版中选(xuan)择。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

条件(jian)保护功(gong)能

通过输入密码可变更筛选分析条件和环(huan)境设(she)定等各(ge)类设(she)定条件,从而提高软件操(cao)作的安全性和保密性。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

利(li)用 [筛(shai)选分析] 画面、操作简单方(fang)便

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

操作简便,一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

放置(zhi)样品

  • 将样(yang)(yang)品放在分析(xi)(xi)位(wei)置,利用样(yang)(yang)品图像观(guan)察装(zhuang)置确认分析(xi)(xi)位(wei)置。
  • 选择(ze)分(fen)析区(qu)域。
  • 关闭样品室(shi)。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

 

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

选择分析条件/输入样品名称

  • 一个画(hua)面中可以同时(shi)显示样(yang)品图像(xiang)、选(xuan)择(ze)分析条(tiao)件、输入样(yang)品名称。
  • 点击开始。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

显示分析结果

  • 测定(ding)结束后,画面上(shang)将清楚显示5种元(yuan)素的[合格(ge)判定(ding)]、[含量]、[3σ(测定(ding)偏差)]。
  • 点(dian)击(ji)即可(ke)显(xian)示[结果列表]或[创建报告(gao)书]。







从主成(cheng)分判定到条件选择全(quan)部(bu)实现自动处理

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

只需1次点(dian)击,便可根据(ju)预(yu)先登录(lu)的(de)分析条件,自动执行从测定到结果的(de)一系列操作。

校准曲线自动选择功能(neng)

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

标准(zhun)配备了RoHS/ELY/无卤素分析所需(xu)的(de)各种功(gong)能(neng)

EDX-LE Plus标准配(pei)备了RoHS/ELV/无(wu)卤素分(fen)析所需的(de)所有必要(yao)功能,用户(hu)无(wu)需购(gou)买特殊选购(gou)件,就可以获得更佳的(de)RoHS/ELV/无(wu)卤素分(fen)析系(xi)统。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

10mmφ图像(塑胶)

 
EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

3mmφ(金(jin)属(shu))

标(biao)准配置改变照射直径(jing)的准直器&样品图像观察组件(jian)

测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。
(1, 3, 5, 10 mmφ)

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

形(xing)状校正(zheng)功能

即(ji)使(shi)含(han)量(liang)相同的样品,在(zai)形(xing)状和(he)(he)厚度不同时,X射线强度将发生变(bian)化,得(de)到(dao)的定量(liang)值也会受到(dao)影响,EDX-LE Plus通(tong)过(guo)使(shi)用(yong)BG内标法(fa)*,可以排除形(xing)状和(he)(he)厚度的影响,取(qu)得(de)高精度结(jie)果。

※BG内标法
 通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

测定结果列表管理

创建列表(biao)功能(neng)

已保存数据可以(yi)用Excel形式列表显示。

大型样(yang)(yang)品(pin)室,可(ke)以直接测(ce)试大型样(yang)(yang)品(pin)

大型(xing)样品室可以(yi)对(dui)应各种样品形态(tai)及(ji)大小(xiao)。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

采用(yong)更大的(de)样品室

最大(da)(da)可以放置370mm长×320mm宽(kuan)×155mm高的大(da)(da)型样(yang)品,令紧凑型机身望尘莫(mo)及。

RoHS、卤素、Sb元素筛选分析套件

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

在RoHS/ELV、卤素筛选分析基础上实现Sb元素的测定

   • 无需改造硬件
   • 仅需替换管理样品
   • RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能够在「同一条件」下进行测定


※初次导入时需要本公司工程师进行软件设定的变更及性能确认。
※根据使用环境的不同有可能出现需要软件升级的情况。

规格

 

材 质 聚(ju)乙(yi)烯树脂
大 小 48mm
厚 度 5mm
添加元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

可以同时进行Sb元素的筛选分析

RoHS指令、卤素(su)(su)和Sb元(yuan)素(su)(su)的7种元(yuan)素(su)(su)能够在(zai)“同(tong)一条件”下进行测(ce)定。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪


EDX-LE Plus 测定Cl、Sb
塑胶中Cl、Sb

塑胶中Cl、Sb不同浓度の光谱比较
和RoHS筛选分析同样,EDX-LE Plus 也可进行Cl、Sb的筛选分析。特别是Cl筛选分析可直接在大气环境下进行,大气环境中Ar和Cl的峰值区分明显。

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪
 

RoHS/ELV筛选专用机型EDX-LE Plus同样具备一般分析功能!

导入后特点

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

1. 可进行RoHS/ELV对象元素以外的定性·定量分析!
2. 根据分析目的的不同,可设定详细的分析条件和解析条件!
3. 可通过薄膜FP法分析多层膜的膜厚、组成及其附着量!
4. 可通过匹配功能进行钢种及种类的判断!

详细情况(kuang)敬请(qing)咨询当地(di)销售(shou)。

一般(ban)分(fen)析功能追加(jia)套(tao)件(jian)(jian)(选购(gou)件(jian)(jian))

使用功能追加套件的分析实例

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

分析(xi)实例(左:不锈钢(gang)的(de)定性・定量(liang)分析(xi),右(you):镀层的(de)膜厚测(ce)定)

匹配功能(钢种、种类判断)

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪

匹配结果

注(zhu))根据样品材质、膜层(ceng)材质及膜厚的不同,有可能出现不适(shi)用本套件(jian)的情(qing)况(kuang)。